业务咨询 +86 411 83726985
传真专线 +86 411 84388895
info@lgwell.com
Toggle navigation
首页 HOME
关于我们 ABOUT
产品与服务 PRODUCTS&SERVICES
红外热波无损检测系统 iLGWells®
Infrared Thermal NDT System
液面红外成像检测系统 iLGWells®
Liquid Infr-Img Detect System
焊缝跟踪与检测系统
Seam Track & Detect System
Digital Rock Solutions
MicroRock
MATROX 迈创 | Matrox 中国
可视化物联网
Visualization IOT
技术支持 SUPPORT
联系我们 CONTACT
Detection of Unbonds in Honeycomb Sandwich Structure Using Lock-In Thermography
首页
/
Article
/
无损检测
/
卤素光
/
Detection of Unbonds in Honeycomb Sandwich Structure Using Lock-In Thermography
Detection of Unbonds in Honeycomb Sandwich Structure Using Lock-In Thermography
近期文章
红外锁相法热波检测技术及缺陷深度测量
红外热成像无损检测系统建立与试验分析
Three-Dimensional Visualization of Subsurface Defect
The study of inspection on SiC coated carbon-carbon composite with subsurface defects by lock-in thermography
Study on Lock-in Thermography Defect Detectability
近期评论
归档
2019 年 11 月
2019 年 10 月
2019 年 9 月
2019 年 8 月
分类
Slider
半导体及太阳能电池
卤素光
无损检测
热波雷达
结构应力分析
超声波激励
闪光脉冲
其他操作
登录
条目 feed
评论 feed
WordPress.org
